UnivIS

Rasterelektronenmikroskopie in Materialforschung und Nanotechnologie

Dozent/in

Details

Zeit/Ort n.V.

  • Di 8:15 - 9:45, Raum 0.68 (außer vac) ICS

Inhalt

• Komponenten eines REM • Elastische/inelastische Wechselwirkung Elektron-Probe, Wechselwirkungsvolumen, Sekundär-/Rückstreuelektronenerzeugung • Kontrastmechanismen mit Bezug auf die verschiedenen Detektorsysteme • Elektronenbeugung und ihre Anwendung im REM • Rastertransmissionsmikroskopie (STEM) • Quantitative Röntgenspektroskopie • Fokussierte Ionenstrahlen (Dual-Beam FIB, He-Ionenmikroskopie) • Präparationsspezifische Probleme • Anwendungsbeispiele

Zusätzliche Informationen

Erwartete Teilnehmerzahl: 30

www: https://www.studon.fau.de/crs3339808.html