UnivIS

Transmissionselektronenmikroskopie in Materialforschung und Nanotechnologie 1

Dozent/in

Details

Zeit/Ort n.V.

  • Do 8:15 - 9:45, Raum 0.85 (außer vac) ICS

Inhalt

• Beschreibung schneller Elektronen • Grundlagen der Elektronenoptik • Komponenten eines TEM • Wechselwirkung Elektron-Materie • Elektronenbeugung • Abbildungsmodi (HF, DF, HRTEM) • Kontrastentstehung im TEM • Charakterisierung von Kristalldefekten (Versetzungen, SF,…) • Anwendungsbeispiele

Zusätzliche Informationen

Erwartete Teilnehmerzahl: 50

www: https://www.studon.fau.de/crs2540203.html